岡山本社
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電話番号

ディスクリートDCテスタ

水俣条約準拠・水銀レス!ディスクリート半導体DCテスター

ATS-3201

水銀レス!世界最高速小信号DCテスタ!!

MODEL ATS-3201は小型・軽量・高速・高性能・優れたコストパフォーマンスを実現した最新型ディスクリートDCテスタです。

コントロールPCを計測ユニットに内蔵するタイプとノートPC等を外部に接続する2タイプを用意し、少量多品種工場は勿論品種切替の少ない量産型工場にも対応。また上位通信機能を有し、CIMによる生産計画によりヒューマンエラーを低減し生産性を向上します。

SPEC CONTROLLER

TEST UNIT CONTROL

TEST PROGRAM EDIT

Software

USB2.0

Test Unit Interface

DC TEST PLAN:100

Test Program

HSMS

Host Link Software

DC TEST UNIT

1-Unit

Test Station

200V

Voltage

MAX 2A

Current

Tr:VF,IF,BV,HFE,VSAT,VBE,ΔVBE(*1-Rd)

FET:VF,IF,BV,IL,VDSon,Vp,Yfs(*2-ΔVDS)

DI:VF,IF,BV,IL,ΔVF

Test Items

180(W)×300(H)×530(D)mm

Dimension

ATS-3610

水銀レス!ハンドラ接続型4デバイス独立超高速中信号DCテスタ!!

MODEL ATS-3610は、ディスクリート半導体製造工程でDC特性を高速・高精度で検査判定します。

独立した4計測部を持ち、各々が自動測定・合否判定・分類をすることが出来、同時に計測データ保存印字が可能です。また上位との通信機能を有し、サーバPC/CIMを導入し測定プログラムの一元化、品質管理、保存データによるトレースバックを可能にした、テストシステムです。

SPEC CONTROLLER

TEST UNIT CONTROL、Calibrator

TEST PROGRAM EDIT

Software

USB2.0

Test Unit Interface

DC TEST PLAN:200、

SORT TEST PLAN:200

Test Program

20Bin

BIN OUT

HSMS

Host Link Software

DC TEST UNIT

4 Parallel

Test Station

600V

Voltage

MAX 10A

Current

Tr:VF,IF,BV,HFE,VSAT,VBE,ΔVBE

FET:VF,IF,BV,IL,VDSon,Vp,GM(Yfs),ΔVDS

DI:VF,IF,BV,IL,ΔVF

Test Items

MainUnit:570(W)×1850(H)×750(D)mm

HeadUnit:110(W)×323(H)×400(D)mm

Dimension

OPTION

8Pin Scanner

Scanner

C Test Unit(LCZMeter Controller)

External Test Unit

ATS-3810PRB

水銀レス!プローバー接続型超高速中信号DCテスタ!!

MODEL ATS-3810PRBは、ディスクリート半導体前工程でのプロービングマシンでのDC・C計測に特化したテスタです。テスタ本体をプロービングマシンの筐体上に設置して、設備床面積の大幅な削減が出来ます。これにより計測回路とウェハー間が最短距離となり、より高精度な検査判定を実現します。

また、オプションとして、高速高精度な容量計測と高速判定の為の計測時間最適化機能ソフトウェアを提供します。一方、テスタの健全性を確保する自己診断機能やオンライン検査機能を備え、段取変え時間と保全作業時間の大幅な削減が可能です。

SPEC CONTROLLER

TEST UNIT CONTROL、Calibrator

TEST PROGRAM EDIT

Software

USB2.0

Test Unit Interface

DC TEST PLAN:200、

SORT TEST PLAN:200

Test Program

20Bin

BIN OUT

HSMS

Host Link Software

DC TEST UNIT

1-Unit

Test Station

800V

Voltage

MAX 10A

Current

Tr:VF,IF,BV,HFE,VSAT,VBE,ΔVBE

FET:VF,IF,BV,IL,VDSon,Vp,GM(Yfs)

DI:VF,IF,BV,IL,ΔVF

Test Items

MainUnit:540(W)×263(H)×400(D)mm
Weight:24Kg

Dimension

OPTION

C Test Unit(LCZMeter Controller)

External Test Unit

CMS-200

水銀レス!超高速容量計測テスタ!!

MODEL CMS-200シリーズは、ディスクリート半導体(FET、ダイオードなど)の容量特性を高速・高精度で

検査、判定を行います。各種補正機能や自動検査機能に加え自己診断機能を強化した低価格テストシステムです。様々なニーズにこたえる為、基本仕様に加えソフトウェアによりWindowsソフトや、組込CPU内の機能拡張が可能であり、ハードウェアではハンドラに合わせて専用のヘッドボックス、治具等を設計製作し、最適化したシステムをご提供します。これまで国内外大手半導体メーカーへシリーズ合計50台以上の出荷実績があります。

SPEC CONTROLLER

TEST UNIT CONTROL

Calibrator

TEST PROGRAM EDIT

Software

KEYSIGHT E4980A

Test Unit Interface

DC TEST PLAN:200、

SORT TEST PLAN:200

Test Program

20Bin

BIN OUT

HSMS

Host Link Software

CONTROL UNIT/HEAD BOX

1-Unit

Test Station

40V

Voltage

FET:CISS,CRSS,COSS,GISS(Rg),GRSS,GOSS

DI:C

Test Items

Control Unit:470(W)×150(H)×450(D)mm
Head Unit:70(W)×120(H)×190(D)mm

Dimension

OPTION

8 Pin Scanner

Scanner

ATS-3120-UPV300

業界最高速パワー半導体DCテスタ!!

MODEL ATS-3120-UPV300は業界最速のディスクリートパワー半導体DCテスタです。

最高電圧2KV、最大電流300Aまでの計測が可能となり、後工程での車載向けパーケージTO-3P、TO-220デバイスの計測に最適です。

また、前工程でのウエハー計測でも多くの導入実績があり、各社プローバI/Fも充実しています。

新開発リレーの採用により、20A未満は2mSec、20A以上では、3mSecと業界最速のリレー切替時間を実現。全リレーチェック機能と測定条件最適化機能を搭載し、装置健全性と作業性UPの両立が可能になり、オプション機能によりCiss、Rg計測も可能になりました。

SPEC CONTROLLER

TEST UNIT CONTROL、Calibrator

TEST PROGRAM EDIT

Software

USB2.0

Test Unit Interface

DC TEST PLAN:200、

SORT TEST PLAN:200

Test Program

20Bin

BIN OUT

HSMS

Host Link Software

DC TEST UNIT

MAX 2system、4Station

Test Station

Main Unit:450(W)×1600(H)×750(D)mm

Head Unit:110(W)×330(H)×380(D)mm

Hiccrrent Unit:330(W)×425(H)×635(D)mm

Voltage

20A,150A,300A

Current

Tr:VF,IF,BV,HFE,VSAT,VBE,ΔVBE

FET:CISS,CRSS,COSS,GISS(Rg),GRSS,GOSS

DI:VF,IF,BV,IL,ΔVF

Test Items

Main Unit:450(W)×1600(H)×750(D)mm

Head Unit:110(W)×330(H)×380(D)mm

Hiccrrent Unit:330(W)×425(H)×635(D)mm

Dimension

OPTION

8Pin Scanner

Scanner

C Test Unit(LCZMeter Controller)

External Test Unit

製品紹介

PRODUCT