ディスクリートDCテスタ
水俣条約準拠・水銀レス！ディスクリート半導体DCテスター
ATS-3201
水銀レス！世界最高速小信号DCテスタ！！
MODEL ATS-3201は小型・軽量・高速・高性能・優れたコストパフォーマンスを実現した最新型ディスクリートDCテスタです。
コントロールPCを計測ユニットに内蔵するタイプとノートPC等を外部に接続する２タイプを用意し、少量多品種工場は勿論品種切替の少ない量産型工場にも対応。また上位通信機能を有し、CIMによる生産計画によりヒューマンエラーを低減し生産性を向上します。
SPEC CONTROLLER
Software
TEST UNIT CONTROL
TEST PROGRAM EDIT
Test Unit Interface
USB2.0
Test Program
DC TEST PLAN:100
Host Link Software
HSMS
DC TEST UNIT
Test Station
１-Unit
Voltage
200V
Current
MAX 2A
Test Items
Tr：VF,IF,BV,HFE,VSAT,VBE,ΔVBE(*１-Rd)
FET：VF,IF,BV,IL,VDSon,Vp,Yfs(*２-ΔVDS)
DI：VF,IF,BV,IL,ΔVF
Dimension
180(W)×300(H)×530(D)mm
ATS-3610
水銀レス！ハンドラ接続型４デバイス独立超高速中信号DCテスタ！！
MODEL ATS-3610は、ディスクリート半導体製造工程でDC特性を高速・高精度で検査判定します。
独立した４計測部を持ち、各々が自動測定・合否判定・分類をすることが出来、同時に計測データ保存印字が可能です。また上位との通信機能を有し、サーバPC／CIMを導入し測定プログラムの一元化、品質管理、保存データによるトレースバックを可能にした、テストシステムです。
SPEC CONTROLLER
Software
TEST UNIT CONTROL、Calibrator
TEST PROGRAM EDIT
Test Unit Interface
USB2.0
Test Program
DC TEST PLAN:200、
SORT TEST PLAN:200
BIN OUT
20Bin
Host Link Software
HSMS
DC TEST UNIT
Test Station
４ Parallel
Voltage
600V
Current
MAX 10A
Test Items
Tr：VF,IF,BV,HFE,VSAT,VBE,ΔVBE
FET：VF,IF,BV,IL,VDSon,Vp,GM(Yfs),ΔVDS
DI：VF,IF,BV,IL,ΔVF
Dimension
MainUnit：570(W)×1850(H)×750(D)mm
HeadUnit：110(W)×323(H)×400(D)mm
OPTION
Scanner
8Pin Scanner
External Test Unit
C Test Unit(LCZMeter Controller)
ATS-3810PRB
水銀レス！プローバー接続型超高速中信号DCテスタ！！
MODEL ATS-3810PRBは、ディスクリート半導体前工程でのプロービングマシンでのDC・C計測に特化したテスタです。テスタ本体をプロービングマシンの筐体上に設置して、設備床面積の大幅な削減が出来ます。これにより計測回路とウェハー間が最短距離となり、より高精度な検査判定を実現します。
また、オプションとして、高速高精度な容量計測と高速判定の為の計測時間最適化機能ソフトウェアを提供します。一方、テスタの健全性を確保する自己診断機能やオンライン検査機能を備え、段取変え時間と保全作業時間の大幅な削減が可能です。
SPEC CONTROLLER
Software
TEST UNIT CONTROL、Calibrator
TEST PROGRAM EDIT
Test Unit Interface
USB2.0
Test Program
DC TEST PLAN:200、
SORT TEST PLAN:200
BIN OUT
20Bin
Host Link Software
HSMS
DC TEST UNIT
Test Station
１-Unit
Voltage
800V
Current
MAX 10A
Test Items
Tr：VF,IF,BV,HFE,VSAT,VBE,ΔVBE
FET：VF,IF,BV,IL,VDSon,Vp,GM(Yfs)
DI：VF,IF,BV,IL,ΔVF
Dimension
MainUnit：540(W)×263(H)×400(D)mm
Weight：24Kg
OPTION
External Test Unit
C Test Unit(LCZMeter Controller)
CMS-200
水銀レス！超高速容量計測テスタ！！
MODEL CMS-200シリーズは、ディスクリート半導体(FET、ダイオードなど）の容量特性を高速・高精度で
検査、判定を行います。各種補正機能や自動検査機能に加え自己診断機能を強化した低価格テストシステムです。様々なニーズにこたえる為、基本仕様に加えソフトウェアによりWindowsソフトや、組込CPU内の機能拡張が可能であり、ハードウェアではハンドラに合わせて専用のヘッドボックス、治具等を設計製作し、最適化したシステムをご提供します。これまで国内外大手半導体メーカーへシリーズ合計５０台以上の出荷実績があります。
SPEC CONTROLLER
Software
TEST UNIT CONTROL
Calibrator
TEST PROGRAM EDIT
Test Unit Interface
KEYSIGHT E4980A
Test Program
DC TEST PLAN:200、
SORT TEST PLAN:200
BIN OUT
20Bin
Host Link Software
HSMS
CONTROL UNIT/HEAD BOX
Test Station
１-Unit
Voltage
40V
Test Items
FET：CISS,CRSS,COSS,GISS(Rg),GRSS,GOSS
DI：C
Dimension
Control Unit：470(W)×150(H)×450(D)mm
Head Unit：70(W)×120（H)×190(D)ｍｍ
OPTION
Scanner
8 Pin Scanner
ATS-3120-UPV300
業界最高速パワー半導体DCテスタ！！
MODEL ATS-3120-UPV300は業界最速のディスクリートパワー半導体DCテスタです。
最高電圧2KV、最大電流300Aまでの計測が可能となり、後工程での車載向けパーケージTO-3P、TO-220デバイスの計測に最適です。
また、前工程でのウエハー計測でも多くの導入実績があり、各社プローバI/Fも充実しています。
新開発リレーの採用により、20A未満は２mSec、20A以上では、3mSecと業界最速のリレー切替時間を実現。全リレーチェック機能と測定条件最適化機能を搭載し、装置健全性と作業性UPの両立が可能になり、オプション機能によりCiss、Rg計測も可能になりました。
SPEC CONTROLLER
Software
TEST UNIT CONTROL、Calibrator
TEST PROGRAM EDIT
Test Unit Interface
USB2.0
Test Program
DC TEST PLAN:200、
SORT TEST PLAN:200
BIN OUT
20Bin
Host Link Software
HSMS
DC TEST UNIT
MAX 2system、４Station
Test Station
Main Unit：450(W)×1600(H)×750(D)mm
Head Unit:110(W)×330（H)×380(D)ｍｍ
Hiccrrent Unit:330（W)×425(H)×635(D)mm
Voltage
20A,150A,300A
Current
Tr：VF,IF,BV,HFE,VSAT,VBE,ΔVBE
FET：CISS,CRSS,COSS,GISS(Rg),GRSS,GOSS
DI：VF,IF,BV,IL,ΔVF
Test Items
Main Unit：450(W)×1600(H)×750(D)mm
Head Unit:110(W)×330（H)×380(D)ｍｍ
Hiccrrent Unit:330（W)×425(H)×635(D)mm
Dimension
OPTION
Scanner
8Pin Scanner
External Test Unit
C Test Unit(LCZMeter Controller)